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產(chǎn)品中心
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,交通,航天,汽車 |
菲希爾鍍層厚度檢測(cè)設(shè)備
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| 小巧、便攜、耐用： FISCHER公司推出的MP0和 MP0R系列無損測(cè)厚儀可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)量涂鍍 層的厚度，滿足客戶對(duì)于FISCHER一貫的精度等 級(jí)的期待。它裝有兩塊背光式LCD顯示屏和高耐 磨探頭，再配合其輕巧的外形，是您現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的 *選擇。樣品的幾何特性和磁導(dǎo)率對(duì)測(cè)量的影 響非常小。另外，儀器還采用了**的非磁性基 材電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)，即使是面對(duì)超薄的鍍層，無 論樣品表面光滑還是粗糙，它都能準(zhǔn)確地測(cè)量。 儀器采用磁感應(yīng)法(PERMASCOPE儀器只能在鐵 磁性基材上使用)；電渦流法(ISOSCOPE 可以 在非鐵磁性材料上使用)以及集成兩種方法于一 體的兩用法(DUALSCOPE)： DUALSCOPE儀器 可以自動(dòng)識(shí)別鋁基材和鐵基材并選擇相應(yīng)的方法 進(jìn)行測(cè)量。 PERMASCOPE® MP0 帶有一個(gè)集成探頭，適用 于測(cè)量鐵基材上的涂鍍層厚度。 DUALSCOPE® MP0 帶有一個(gè)集成探頭，適用于 測(cè)量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。 | 為了擴(kuò)大MP0系列儀器的應(yīng)用范圍， MP0R型儀器 內(nèi)置了10,000個(gè)數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存功能，并定制了符合 IMO PSPC 和 SSPC-PA2 規(guī)則的防腐層的特殊測(cè)量 模式。通過 USB 端口，儀器可以與電腦相連并利 用 FISCHER DataCenter 軟件輕松地對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn) 行統(tǒng)計(jì)和記錄。 FP 型儀器固定在機(jī)身上的延長(zhǎng)型 探頭可以簡(jiǎn)便而準(zhǔn)確地在不便觸及的區(qū)域以及外 形復(fù)雜的樣品上進(jìn)行測(cè)量。 PERMASCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個(gè)集 成探頭或一個(gè)延長(zhǎng)型探頭，適用于測(cè)量鐵基材上 的涂鍍層厚度。 DUALSCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個(gè)集成 探頭或一個(gè)延長(zhǎng)型探頭，適用于測(cè)量幾乎所有金 屬基材上的涂鍍層厚度。 ISOSCOPE® MP0R 帶有一個(gè)集成探頭，專為高精 度測(cè)量幾乎所有非鐵基材上的較薄涂層而設(shè)計(jì)。 DUALSCOPE® MP0RH-FP 帶有一個(gè)延長(zhǎng)型探頭， 專為高精度測(cè)量幾乎所有非鐵基材上的較厚涂層 而設(shè)計(jì)。 |
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手持式FMP系列儀器是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE)、 電渦流法(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE)，并采用了可更換探頭的設(shè)計(jì)，非常適用于對(duì)涂鍍層進(jìn)行無損測(cè)量。儀器的模塊化設(shè)計(jì)，可供客戶根據(jù)不同的測(cè)量需求選配不同的測(cè)量系統(tǒng)。除了眾多的測(cè)厚儀機(jī)型之外， FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭。
DELTASCOPE® FMP10 和 FMP30 機(jī)型適用于測(cè)量鐵基體上的涂鍍層厚度。ISOSCOPE® FMP10 和 FMP30 機(jī)型是專為高精度測(cè)量非鐵金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)的。DUALSCOPE® FMP20 和 FMP40 機(jī)型可以測(cè)量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。
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篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀；
==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
