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talysurf cci 2000泰勒輪廓儀經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2021-04-13
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talysurf cci 2000泰勒輪廓儀經(jīng)銷商Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理,可高精度測(cè)量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸,并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件,半導(dǎo)體器件,光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)。
品牌 | TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
泰勒白光干涉表面輪廓儀介紹:
Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理,可高精度測(cè)量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸,并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件,半導(dǎo)體器件,光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法,通過建立模板,能夠計(jì)算出帶光源相干峰與相位的位置。無論是拋光表面還是粗糙表面,只要反射率超過 0.5%,就能夠被檢測(cè)。在非接觸表面三維測(cè)量中,CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
高精度、低噪音、百萬數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)字技術(shù),泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世,宣告著微 觀世界表面三維形貌時(shí)代到來。對(duì)于光學(xué)、半導(dǎo)體、微納米機(jī)械、汽車、醫(yī)藥、軸承等工業(yè) 而言,如果您需要非接觸的方法來檢測(cè)物體的三維表面形貌、表面粗糙度、臺(tái)階高度、微觀 三維尺寸,CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度、納米級(jí)的分辨率、非接觸測(cè)量、三維形貌顯示, 是您理想的選擇。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計(jì)量的理想方法來進(jìn)行粗糙度,臺(tái)階高度或微觀尺寸測(cè)量時(shí),泰勒·霍普森(Taylor Hobson)都能提供您期望的結(jié)果。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率,可為光學(xué),MEMS,半導(dǎo)體,汽車,醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測(cè)量。
數(shù)據(jù)分析工具。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示。。 面積與體積參數(shù) 。 二維參數(shù) 120 個(gè) 。 三維參數(shù) 40 個(gè) 。 數(shù)據(jù)處理 。 自動(dòng)的臺(tái)階高度計(jì)算 可溯源的結(jié)果。 我們采用可以溯源的樣塊,對(duì)側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定。。 對(duì)于我們所測(cè)量的幾何的,空間的各種數(shù)據(jù),都可以得到認(rèn)證。 |
關(guān)于英國(guó)泰勒:
篤摯儀器(上海)有限公司專業(yè)代理英國(guó)泰勒粗糙度儀、輪廓儀、粗糙度輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等精密測(cè)量?jī)x器。英國(guó)泰勒霍普森Taylor Hobson隸屬于美國(guó)阿美特克AMETEK集團(tuán),是不斷創(chuàng)新的精密計(jì)量領(lǐng)域的世界**者,杰出的聲譽(yù)源自100多年的計(jì)量設(shè)計(jì)和精密制造工程經(jīng)驗(yàn)。代表著表面粗糙度及形狀計(jì)量學(xué)領(lǐng)域的高精度等級(jí)的計(jì)量水平,并為眾多應(yīng)用領(lǐng)域提供接觸和非接觸測(cè)量解決方案。英國(guó)泰勒擁有大量以發(fā)明**為代表的知識(shí)產(chǎn)權(quán),同時(shí)仍保有大規(guī)模的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和高額資金投入。并且不斷將科研成果應(yīng)用于新產(chǎn)品的開發(fā)和改進(jìn),使其更加完善地服務(wù)于用戶。