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產(chǎn)品中心
| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK |
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MIKROTEST G6機(jī)械涂層測(cè)厚儀指南
篤摯儀器有限公司憑借世界*的設(shè)備供應(yīng)商和*的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，可以結(jié)合具體情況為客戶(hù)提供全面高效的無(wú)損檢測(cè)解決方案。隨著國(guó)內(nèi)各行業(yè)的發(fā)展，隨著供應(yīng)商技術(shù)的發(fā)展，致力于為國(guó)內(nèi)行業(yè)提供優(yōu)良的技術(shù)和設(shè)備。并致力于將非破壞性測(cè)試擴(kuò)展到更多應(yīng)用。
操作說(shuō)明：
去除被測(cè)量物及表面的油和塵土。
使用Mikrotest G、F、Galvanotest型（自動(dòng)式）
先反時(shí)針旋轉(zhuǎn)度盤(pán)（圖1中6）到底，將麥考特與被測(cè)表面平行靠緊。此時(shí)，按按鈕8（圖1中8）此時(shí)，讀數(shù)即為厚度值。
在度盤(pán)旋轉(zhuǎn)過(guò)程中，不要碰按鈕8
zui終厚度值應(yīng)是技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的公差范圍的綜合考慮，并通過(guò)多點(diǎn)測(cè)量得到平均值。
如：200um ? 5％
平面測(cè)量
測(cè)量面的位置對(duì)于測(cè)量結(jié)果無(wú)影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui小測(cè)量范圍和基體的厚度。
彎面測(cè)量
在測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí)，利用儀器上的V型部分，將儀器如示意圖6放置，測(cè)量凹畫(huà)時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意zui小曲率的限制。
粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）在特別粗糙（如峰值超過(guò)50um）的鋼基體上，并且涂層厚度超過(guò)100um時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況下，平均值的讀取至少應(yīng)測(cè)5個(gè)以上。
MIKROTEST G6機(jī)械涂層測(cè)厚儀指南
篤摯儀器代理的EPK麥考特涂層測(cè)厚儀所有儀器均符合DIN、ISO及ASTM標(biāo)準(zhǔn)。*自動(dòng)操作。在使用時(shí)具有*的如下特性：
1.自動(dòng)測(cè)量不會(huì)發(fā)生誤操作
2.易于掌握并具有*精度
3.不用校準(zhǔn)、設(shè)定、檢測(cè)簡(jiǎn)便
4.不需要電池或其他電源
5.自動(dòng)報(bào)出厚度讀值
6.用無(wú)損測(cè)頭，一點(diǎn)測(cè)定
7.金屬鎧裝適于室外頻繁操作使用
8.抗機(jī)械沖擊、耐酸及溶劑腐蝕
9.平衡裝置消除地心引力影響，可在任意方向和管內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量。MIKROTEST鐵上鍍鎳層測(cè)厚儀
技術(shù)參數(shù)：
型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 讀值精度 | zui小測(cè)量區(qū)-直徑 | zui小半徑 凸 凹 mm mm | 基體zui小 厚度mm | 適合使用場(chǎng)所 |
MIKROTEST G 6 | 0－100μm | 1μm或5％讀值 | 20mm | 5 25 | 0.5 | 鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
MIKROTEST F 6 | 0－1000μm | 5μm或5％讀值 | 30mm | 8 25 | 0.5 | |
MIKROTEST 6 S3 | 0.2－3mm | 5％讀值 | 30mm | 15 25 | 1.0 | |
MIKROTEST 6 S5 | 0.5－5mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 1.0 | |
MIKROTEST 6 S10 | 2.5－10mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 2.0 | |
MIKROTEST 6 S20 | 7.5－20mm | 5％讀值 | 1000mm | 100 150 | 7.0 | |
MIKROTEST 6 Ni50 | 0- 50μm | 1μm+5%讀數(shù) | 15mm | 5 25 | - | 非鐵制基體上鍍鎳 |
MIKROTEST 6 Ni100 | 0- 100μm | |||||
MIKROTEST NIFE50 | 0－50μm | 2μm + 8％讀值 | 20mm | 10 25 | 0.5 | 鋼鐵上電鍍鎳 |
