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涂層測厚儀4500精度和測量范圍
涂層測厚儀4500精度和測量范圍,測量范圍Fe:0-3000μm型和Fe:0-5000μm型,和Fe/NFe:0-3000μm,精度±(2+3%)μm≤2000μm;±(2+5%)μm>2000μm
型號:
型號 | 型式 | 量程 | 基體 |
QNix4200 | 一體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix4200P | 分體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix4200/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix4200P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix4500 | 一體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500P | 分體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe 雙用 |
產(chǎn)品型號 | QNix4200 | QNix4500 | |
適合基體 | 磁性基體 | 磁性基體/非磁性基體 | |
探頭類型 | Fe | Fe/ NFe | |
測量范圍 | Fe:0-3000um | Fe: 0-3000um或0-5000um | |
顯示范圍 | 0-99.9μm:0.1μm | ||
精度 | ±(2+3%)μm≤2000μm | ||
*小接觸面 | Fe:10×10mm²,NFe:6×6mm² | ||
*小曲率半徑 | 凸半徑:5mm,凹半徑:25mm | ||
*小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm | ||
溫度補償范圍 | 0-50℃ | ||
測量溫度范圍 | -10℃-60℃ | ||
分體型連接線長度 | 1m | ||
顯示 | LCD液晶(帶背光) | ||
探頭 | 紅寶石固定式 | ||
電源 | 2×1.5V干電池 | ||
尺寸 | 100×60×27mm | ||
重量 | 一體型:105g,分體型:147g | ||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機、探頭、基體、包裝盒、隨機資料 | ||
可選配置 | 標(biāo)準(zhǔn)膜厚片、探頭導(dǎo)線 |
儀器使用:
1.開機:
裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實,儀器將自動開機。(使用時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實,禁止接觸狀態(tài)下橫向滑動探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起,離開被測物10cm以上,再進行下次測量。)
2.設(shè)置:
開機后按紅色按鍵進入菜單,QNix®4500為4個選項,QNix®4500為2個選項,見下圖:
“Fe”為磁性金屬基體模式,“NFe”為非磁性金屬基體模式(僅QNix®4500),“Fe/NFe”為自動識別基體模式(僅QNix®4500),“取平均值”為儀器自動顯示后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測量)。
按紅鍵進入菜單后,繼續(xù)按紅鍵進行選擇,將光標(biāo)在選項上停留2秒后,進入所選項目。如在“Fe”選項上停留2秒后,儀器顯示如下:
這時儀器進入Fe(磁性金屬基體)模式下工作。QNix®4500也可選擇NFe(非磁性金屬基體)、Fe/NFe(磁性非磁性基體自動識別)模式下工作。進入“取平均值”選項后,儀器顯示如下
在“開”選項上停留2秒后,取平均值開啟,測量時顯示數(shù)據(jù)為后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測量),測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“ X— ”符號時表示取平均值開啟,如不需要請關(guān)閉(在取平均值選項里選擇“關(guān)”)即可。
3.測量:
(1)調(diào)零:
儀器在測量前,應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面調(diào)零,因為材料之間導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同,會造成一定誤差。選擇相應(yīng)Fe或NFe模式后,將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上,不要抬起,按一下儀器上的紅鍵松開,儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、“零位參照,拿起探頭”或聽到儀器響聲后,拿起儀器,出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響聲后,液晶顯示0,調(diào)零完畢。
注意:由于工件表面粗糙度等原因,調(diào)零后,再測時不一定是的零位,這是正?,F(xiàn)象。
(2)測量
將儀器探頭垂直接觸被測物的表面,儀器將自動測出并顯示數(shù)據(jù)。(建議用拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用)
注意:測量時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面、并壓實,每測量一次后將儀器拿起,離開被測物10㎝以上,再進行下一點測量。